本次教程是在Jtest中對simple類進(jìn)行回歸測試以及在執(zhí)行測試用的過程中檢測內(nèi)存泄露的方法，需要的朋友可以收藏哦~

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執(zhí)行回歸測試

1. 在Jtest視圖中點擊Delete All按鈕清除當(dāng)前消息。
2. 在Package Explorer中選擇 Jtest Example> examples.eval> Simple.java
3. 打開Test Using 下拉菜單 Test Using> Built-in> Unit Testing> Maintainable Regression Test Suite。
4. 打開simple.java 編輯器：
5. 打開Jtest Example工程的Package Explorer
6. 打開example.eval包分支。
7. 雙擊example.eval包分支的Simple.java節(jié)點
8. 將add（）中的‘+’改成‘-’。方法的第二行代碼為return i1-i2；
9. 保存修改的Simple.java方法。
10. 選擇Jtest Example> examples.eval> Simple.java源碼。
11. 運行回歸測試(Jtest Example.rtest工程中) 打開Test Using 下拉菜單 Test Using> Built-in> Unit Testing> Run Regression Tests。
12. 假設(shè)功能性的改變是故意的，并且你希望能改正所生成的測試用例的期望的結(jié)果，使用Quick Fix（R）選項能夠標(biāo)記這些新的結(jié)果作為預(yù)期結(jié)果：

• 右擊Review Assertion Failure 消息中的一個，然后選擇Change expected value，確認(rèn)新的值是預(yù)期的結(jié)果。Jtest會修改相關(guān)的測試用例斷言。
• 對于剩余的失敗的斷言重復(fù)以上的步驟。
• 保存修改的Simple.java方法。

在隨后的測試中，Jtest將檢查是否新的期望的結(jié)果都完成了。如果沒有，對于每一個失敗的斷言來說將報告一個Fix Unit Test 問題任務(wù)消息。

在執(zhí)行測試用的過程中檢測內(nèi)存泄露

配置例子的配置Test Configuration來檢測如下的內(nèi)存泄漏：

• 打開Test Configuration對話框通過選擇Jtest> Test Configurations（或在Test Using里使用下拉菜單選擇）Test Configurations。
• 選擇 Example Configuration測試配置類。
• 打開Execution> Options標(biāo)簽。
• 使Detect memory leaks選項能用。
• 點擊Apply,然后關(guān)閉確認(rèn)修改的設(shè)置。

步驟：

1. 選擇Jtest Example> examples.leaks> Library.java 源碼。
2. 通過Test Using 按鈕啟動測試。
3. 雙擊Library.java> Fix Unit Test Problems> [Line #] Memory Leak: 3.8
4. mega-bytes per call在一個編輯器中打開相關(guān)的代碼。按照在代碼下的注釋 的解釋來講，內(nèi)存泄漏時因為每次用同樣的參數(shù)調(diào)用addBook（）方法，代碼第36行分配的內(nèi)存將永遠(yuǎn)不會被釋放。
5. 通過取消hashcode（）和equals（）方法的新實現(xiàn)來阻止內(nèi)存泄漏再次出現(xiàn)。這些方法能夠保證同樣的書重復(fù)的條目不會在圖書館中出現(xiàn)。現(xiàn)在，如果addBook（）被相同的參數(shù)多次調(diào)用，這個調(diào)用能夠?qū)е轮挥幸粋€Book對象不能垃圾回收（而不是一個Book對象的每次addBook（）調(diào)用）

返回測試并且驗證內(nèi)存泄漏不再報告。

以上就是本次教程的內(nèi)容了，你也可以申請jtest試用>>，親自動手試試哦。

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